【產(chǎn)品推薦】半導體檢查、晶片檢查LLBKC-BA-1650
      
                
      
                    
      ?【產(chǎn)品推薦】半導體檢查、晶片檢查LLBKC-BA-1650
      

      特性
      

      ●可照射NIR（近紅外波長740nm~1000nm）SWIR（短波紅外波長1000nm～1700nm）區(qū)域的光源BOX
      

      ●使用NIR/SWIR光也可以實現(xiàn)在可見光下難以拍攝的同色異物識別和封裝印刷物的透過拍攝
      

      ●SWIR光可用于有效利用硅的透過和水的波長吸收特性的檢查
      

      ※為了拍攝需要銦·砷化鎵（InGaAs）傳感器相機
      

      ?
      

      用途示例
      

      半導體檢查、晶片檢查、電子基板檢查、
      

      太陽能電池檢查、農(nóng)產(chǎn)品檢查、識別分類、監(jiān)視、防偽、工程質(zhì)量管理
      

      發(fā)射波長
      

      740nm
      

      850nm
      

      940nm
      

      1,050納米
      

      1,100納米
      

      1,200納米
      

      1,300納米
      

      1,450納米
      

      1,550納米
      

      1,650納米